美国 CRAIC（克雷克）FLEX 全光谱微量物证检验工作站

美国 CRAIC（克雷克）FLEX 全光谱微量物证检验工作站

一、产品概况：

    美国CRAIC（克雷克） FLEX全光谱微量物证检验工作站采用前沿技术，不仅可以让用户测试微米级样品的吸收、反射、拉曼、荧光激发或其他光源类型下的光谱，还提供了数字成像功能。光谱测试的范围从深紫外到近红外，可实现全波段的成像。

    FLEX具备光谱及图像分析软件、自动化的参数设置、简单易用、能长时间稳定工作。

    FLEX集成了（紫外－可见－近红外）光谱仪、成像系统于一身，同时光谱仪和数字成像系统都使用了新的显微镜光路系统。产品配备多种类型的光源包，包括透射光、反射光、荧光等，也可以根据用户定制化需求提供偏振光和拉曼激光。

    FLEX拥有高分辨率的数字彩色成像系统。它的高精度软件不仅可以控制显微镜、光谱仪和数字成像系统，还提供了分析功能，甚至可应用于薄膜厚度测量。

    FLEX高灵敏度的热电制冷固态阵列检测器件，增强了光学器件的信噪比，并保证设备能长时间稳定地工作。

二、应用领域：

    刑侦物证分析鉴定：

     1. 微量物证分析，如：痕迹证据、法医药物化学、可疑性文件、有机发光二极管相关物体、平板彩色面具、半导体膜厚度、MEMS设备、表面等离子体共振等；

     2. 文检光谱分析，如：笔迹鉴定、证件真伪验证、古迹字画鉴定等。   

    生物样品分析测试：主要用于食药案件中的非法添加物、限量添加物的检验和鉴定工作等。如：光子带隙型晶体、过程杂质检测、蛋白质晶体、组合化学等。

三、功能特色：

    特色概述：

    为UV-visible-NIR（紫外光-可见光-近红外光）显微分光和显微成像提供了一种经济、高效的解决方案；

    UV-visible-NIR（紫外光-可见光-近红外光）显微分光功能；

    UV-visible-NIR（紫外光-可见光-近红外光）成像功能；

    透射、反射、偏振和荧光显微分光；

    透射、反射、偏振和荧光显微成像；

    拉曼显微分光功能（选配）；

    薄膜厚度测量功能；

    可对微观样本进行比色分析；

    可使用rIQ™包进行折射率的测量（选配）；

    创新独道的Lightblades™技术；

    集成化的TE冷却阵列探测器具有长期稳定性，噪音很低；

    可校准的、可变测量区可精确至1μm范围以内；

    带有目镜和数字成像特性的高级图像；

    专门的软件包括统计分析，光谱数据分析，图像分析等；

    易于使用和维护；

    由显微光谱学专家设计。

    经济、高效的显微镜：

    显微光谱范围从紫外光到可见光，再到近红外光。显微镜对采样孔和样本进行同步直接成像，以进行快速、准确地测量。

    得益于创新的Lightblades™技术，甚至连亚微米级样品的透射、反射和荧光光谱都可以测量。

    CRAICT技术也是NIST可追踪微光谱仪标准的唯一来源。

    灵活的拉曼显微镜：

    安装了CRAIC Apollo™ 拉曼光谱仪模块后，FLEX可以测量拉曼、共振拉曼和其他类型的显微样本。设备可提供激光模块、拉曼光谱模块和接口光学模块，确保您可以采集到样本的高质量拉曼光谱。

    高灵敏度显微荧光测量和成像：

    FLEX™可以通过配置获得显微样品的荧光/冷光光谱和图像。它拥有创新独道的Lightblades™技术，以及从深紫外光到近红外光，以及测量相同范围内的放射物的能力，是应用于材料科学、生物学、地质学等领域的微荧光测量的强大工具。

    光谱表面绘图™：

    可结合硬件和软件，运用微观空间分辨率，对样本进行自动光谱分析和三维绘图。带有吸收、透射、反射、荧光、发射和拉曼光谱等详情的三维绘图可能会一起生成。

    从紫外光到近红外光卓越的图像质量：

    FLEX™ 拥有能高分辨率数码成像的（紫外光-可见光-近红外）显微镜，彩色、紫外光和近红外光区域均覆盖。通过精巧的成像软件，FLEX™拥有实时成像，并通过投射、反射、偏振和荧光进行图像捕捉的能力。 

四、功能展示